يشترى SN74LVTH182512DGGR مع BYCHPS
شراء مع ضمان
SN74LVTH182512DGGR
- رقم القطعة:
- SN74LVTH182512DGGR
- الصانع:
- وصف:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
- حالة الرصاص الحرة / بنفايات الحالة:
- الرصاص الحرة / بنفايات المتوافقة
- الكمية المتوفرة:
- 18142 Pieces
- ورقة البيانات:
- SN74LVTH182512DGGR.pdf
المقدمة
BYCHIPS هو الموزع تخزين ل SN74LVTH182512DGGR ، لدينا مخزون للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتوريد وقت طويل. يرجى ان ترسل الينا خطة الشراء الخاصة بك SN74LVTH182512DGGR عن طريق البريد الإلكتروني ، وسنقدم لك أفضل الأسعار وفقا للخطة الخاصة بك.
مواصفات
| امدادات التيار الكهربائي: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| تجار الأجهزة حزمة: | 64-TSSOP |
| سلسلة: | 74LVTH |
| التعبئة والتغليف: | Tape & Reel (TR) |
| حزمة / كيس: | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
| اسماء اخرى: | 296-8698-2 74LVTH182512DGGRE4 74LVTH182512DGGRE4-ND 74LVTH182512DGGRG4 74LVTH182512DGGRG4-ND |
| درجة حرارة التشغيل: | -40°C ~ 85°C |
| عدد القطع: | 18 |
| تصاعد نوع: | Surface Mount |
| مستوى حساسية الرطوبة (مسل): | 1 (Unlimited) |
| الصانع المهلة القياسية: | 6 Weeks |
| الصانع الجزء رقم: | SN74LVTH182512DGGR |
| نوع المنطق: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| وصف موسع: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
| وصف: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP |
| Email: | [email protected] |
قطع الغيار ذات الصلة لSN74LVTH182512DGGR
| صورة | رقم القطعة | مصنعين | وصف | رأي |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | تحقيق |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | تحقيق |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | تحقيق |
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | تحقيق |
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | تحقيق |
Latest الأخبار
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers