العربية
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska✕
معلومات عنا | اتصل بنا | اطلب اقتباس |
الصفحة الرئيسية > منتجات > الدوائر المتكاملة IC > واجهة - الاتصالات > DS2172T+T&R
DS2172T+T&R
DS2172T+T&R
رقم القطعة:
DS2172T+T&R
الصانع:
Maxim Integrated
وصف:
IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
حالة الرصاص الحرة / بنفايات الحالة:
الرصاص الحرة / بنفايات المتوافقة
الكمية المتوفرة:
13194 Pieces
ورقة البيانات:
DS2172T+T&R.pdf
تحقيق

المقدمة

BYCHIPS هو الموزع تخزين ل DS2172T+T&R ، لدينا مخزون للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتوريد وقت طويل. يرجى ان ترسل الينا خطة الشراء الخاصة بك DS2172T+T&R عن طريق البريد الإلكتروني ، وسنقدم لك أفضل الأسعار وفقا للخطة الخاصة بك.
يشترى DS2172T+T&R مع BYCHPS
شراء مع ضمان

مواصفات

الجهد - توريد:4.5 V ~ 5.5 V
تجار الأجهزة حزمة:32-TQFP (7x7)
سلسلة:-
السلطة (واتس):-
التعبئة والتغليف:Tape & Reel (TR)
حزمة / كيس:32-TQFP
درجة حرارة التشغيل:0°C ~ 70°C
عدد الدوائر:1
تصاعد نوع:Surface Mount
مستوى حساسية الرطوبة (مسل):3 (168 Hours)
الصانع الجزء رقم:DS2172T+T&R
السطح البيني:T1
يشمل:Error Counter, Pattern Generator and Detector
وظيفة:Bit Error Rate Tester (BERT)
وصف موسع:Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7)
وصف:IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
الحالي - توريد:10mA
Email:[email protected]

سريع طلب اقتباس

رقم القطعة
كمية
شركة
البريد الإلكتروني
هاتف
تعليقات

قطع الغيار ذات الصلة لDS2172T+T&R

صورة رقم القطعة مصنعين وصف رأي
DS2176QN Image DS2176QN Maxim Integrated IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC تحقيق
DS2175SN Image DS2175SN Maxim Integrated IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC تحقيق
DS2172T+ Image DS2172T+ Maxim Integrated IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP تحقيق
DS2175 Image DS2175 Maxim Integrated IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP تحقيق
DS2175+ Image DS2175+ Maxim Integrated IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP تحقيق
DS2172TN+T&R Image DS2172TN+T&R Maxim Integrated IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP تحقيق
DS2172TN+ Image DS2172TN+ Maxim Integrated IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP تحقيق
DS2172T/T&R Image DS2172T/T&R Maxim Integrated IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP تحقيق
DS2176Q/T&R Image DS2176Q/T&R Maxim Integrated IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC تحقيق
DS2172T Image DS2172T Maxim Integrated IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP تحقيق
DS2172TN Image DS2172TN Maxim Integrated IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP تحقيق
DS2174Q+ Maxim Integrated IC BERT ENHANCED 44-PLCC تحقيق
DS2176+ Image DS2176+ Maxim Integrated IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP تحقيق

Latest الأخبار